Cada pin localizado, y los residuos, con una sola inferencia

Sí. La misma red produce dos salidas en una única pasada de inferencia: un centroide subpíxel para cada pin y un mapa de contaminación a nivel de píxel. En un conector de 72 pines eso son 72 posiciones y todos los residuos presentes en la pieza a partir de una sola captura. Cada región de contaminación se atribuye al pin sobre el que se encuentra y se informa con un recuadro delimitador preciso al píxel, de modo que el defecto llega ya vinculado a una ubicación y no como una marca de rechazo suelta.

La posición verdadera es la distancia entre donde está realmente un pin y donde el plano dice que debería estar, expresada como diámetro y no como más y menos. La zona de tolerancia es un círculo alrededor del centro nominal, de modo que el valor informado es el doble de la desviación radial. Un pin desviado 0,10 mm en x y 0,10 mm en y tiene un error radial de 0,141 mm y una posición verdadera de 0,283 mm. Informar la cifra radial en lugar de la diametral divide por dos todos los números del informe, y es con diferencia la forma más habitual de malinterpretar estos resultados.

El centroide queda dentro de un píxel en el peor de los casos, y normalmente bastante mejor, porque un centroide calculado a partir de una máscara de segmentación es por naturaleza una magnitud subpíxel. Eso convierte la exactitud física en una función de la óptica y no del modelo. A 9,35 micras por píxel el peor caso es de más menos 10 micras. Colocar un sensor de mayor resolución detrás del mismo objetivo telecéntrico y con la misma receta entrenada lleva la escala a 3,33 micras por píxel y el peor caso a más menos 3,3 micras. Nada más cambia en la estación.

Un objetivo telecéntrico proyecta de forma ortográfica, con rayos paralelos y sin escorzo de perspectiva, y eso es lo que permite recuperar la inclinación a partir de una sola imagen 2D. Cuando la cara del conector está inclinada, la retícula de pines proyectada conserva su tamaño a lo largo del eje de inclinación y aparece comprimida por el coseno del ángulo en la dirección perpendicular. Ajustar una transformación afín de dos por dos a las 72 posiciones medidas y descomponerla por SVD devuelve en forma cerrada la guiñada, la magnitud de la inclinación, la dirección del eje de inclinación y su reparto en cabeceo y alabeo. La afín inversa normaliza después la retícula a un marco de referencia plano, de modo que la inclinación deja de aparecer como error de medición.

No, porque el ajuste de pose se ejecuta como un consenso sobre subconjuntos aleatorios del campo de pines y no como un único ajuste sobre todo el conjunto. Con 72 pines disponibles, ajustar repetidamente subconjuntos de 30 y quedarse con el consenso implica que un solo pin desplazado no puede desviar el plano recuperado respecto al acuerdo de los otros 71. Esto importa porque el valor atípico suele ser justamente lo que se quiere medir, y un ajuste óptimo ingenuo lo absorbe discretamente en el datum e informa la pieza como correcta.

En el que use el plano, y el mismo conjunto de centroides admite los tres. La posición absoluta informa cada pin en el marco de la cámara, lo cual es sencillo pero se desplaza cuando la pieza se mueve dentro del campo de visión. El informe referido a vecinos da el paso entre pines y la adyacencia, lo que detecta un pin ausente, un pin duplicado o un error local de paso, y es indiferente a dónde se sitúe la pieza. El informe referido a datum construye un marco local de pieza a partir de las esquinas del cuerpo del conector e informa desviaciones respecto a él, que es como los planos suelen especificar la posición verdadera.

Se deriva de la óptica, no del modelo. La escala en micras por píxel marca el límite inferior, y un detalle necesita varios píxeles de ancho para poder separarse del ruido del sensor y de la textura del recubrimiento que tiene debajo. El contraste importa tanto como el tamaño, ya que una fibra oscura atravesada sobre una celda de pin es mucho más fácil que un fragmento metálico sobre una superficie metálica. La forma honesta de especificarlo es nombrar la partícula más pequeña que importa y calcular hacia atrás el campo de visión y el objetivo que ponen suficientes píxeles sobre ella.