Tấm chắn dập nổi có vết dập ảnh hưởng đến niêm phong EMI: Hướng dẫn kiểm tra bằng thị giác máy

Vấn đề: Vì sao lỗi vết dập làm giảm hiệu quả che chắn EMI

Các tấm chắn kim loại dập nổi là thành phần quan trọng trong các cụm điện tử, cung cấp khả năng bảo vệ chống nhiễu điện từ (EMI) cho các mạch nhạy cảm. Khi quá trình dập tạo ra vết không đồng đều hoặc bất thường bề mặt, các lỗi giao diện niêm phong phát sinh có thể khiến toàn bộ cụm không đạt tiêu chuẩn EMC.

Các lỗi thường gặp trên tấm chắn dập nổi

• Độ sâu dập chưa đủ — vết in quá nông, không tạo được bề mặt tiếp xúc niêm phong phù hợp
• Lệch vị trí vết dập — vết dập bị lệch hoặc xoay làm cho lực nén gioăng không đồng đều
• Bavia ở mép dập — vật liệu bị gờ lên tạo ra khe hở ở giao diện niêm phong EMI
• Bất thường dòng chảy vật liệu — kim loại dịch chuyển không đồng đều gây gợn bề mặt niêm phong
• Nứt tại ranh giới dập — vi nứt do áp lực tạo hình quá cao hoặc mỏi vật liệu
• Biến thiên kích thước hình học dập — biên dạng vết dập không nhất quán ảnh hưởng đến khớp nối giữa gioăng và tấm chắn

Người kiểm tra gặp khó khăn với các lỗi này vì chúng rất tinh vi và lặp lại. Mệt mỏi đến rất nhanh khi phải xem hàng trăm tấm chắn giống nhau mỗi giờ, và những biến thiên ở cấp micromet về độ sâu dập thường không thể nhìn thấy bằng mắt thường dưới điều kiện chiếu sáng sản xuất.

Giải pháp: Kiểm tra thị giác AI cho chất lượng tấm chắn EMI

Các hệ thống thị giác máy được trang bị thuật toán học sâu rất giỏi trong việc phát hiện những biến thiên bề mặt tinh vi quyết định chất lượng vết dập. Không giống các hệ thống dựa trên luật cần lập trình riêng cho từng loại lỗi, mạng nơ-ron học cách nhận ra các mẫu phức tạp phân biệt giữa chi tiết đạt và chi tiết loại.

Cách tiếp cận của Overview.ai mang đến khả năng kiểm tra nhất quán và khách quan ở tốc độ dây chuyền đầy đủ, xem xét từng tấm chắn dập nổi mà không có sự dao động vốn có của phương pháp lấy mẫu thủ công. Nền tảng OV80i xử lý hình ảnh độ phân giải cao trong vài mili giây, đánh dấu các chi tiết nghi ngờ trước khi chúng chuyển sang công đoạn lắp ráp nơi chi phí sửa lỗi tăng lên nhiều lần.

Bước 1: Thiết lập hình ảnh

Đặt tấm chắn dập nổi dưới camera sao cho các vết dập hướng lên trên, đảm bảo toàn bộ bề mặt tiếp xúc niêm phong EMI đều nằm trong trường nhìn. Việc kẹp giữ đúng ở giai đoạn này là rất quan trọng: tấm chắn phải phẳng và ổn định để loại bỏ bóng hoặc phản xạ có thể che khuất các đặc điểm quan trọng.

Nhấp vào "Cấu hình hình ảnh" để mở bảng Cấu hình Camera. Điều chỉnh độ phơi sáng để làm rõ chi tiết kết cấu bề mặt ở các vùng dập mà không làm cháy các điểm sáng, và điều chỉnh độ khuếch đại để cân bằng tín hiệu với nhiễu hình ảnh.

Nhấp vào "Lưu" để cố định các tham số hình ảnh trước khi tiếp tục.

Bước 2: Căn chỉnh hình ảnh

Đi tới "Ảnh mẫu" trong menu cấu hình. Chụp một mẫu từ tấm chắn đạt chuẩn để phản ánh hướng đặt lý tưởng và vị trí của các vết dập.

Nhấp vào "+ Hình chữ nhật" để thêm một vùng bao quanh phần thân chính của tấm chắn, bao trùm tất cả các vết dập và vùng tiếp xúc niêm phong. Vùng này dạy hệ thống cách định vị và định hướng các chi tiết đầu vào.

Đặt "Phạm vi xoay" ở 20 độ để thích ứng với biến thiên vị trí đặt chi tiết trên băng tải hoặc đồ gá kiểm tra.

Bước 3: Chọn vùng kiểm tra

Đi tới "Cấu hình kiểm tra" để xác định nơi hệ thống nên tập trung phân tích. Đổi tên "Loại kiểm tra" bằng các nhãn mô tả như "Vùng_Độ_Sâu_Dập" hoặc "Khu_Vực_Bề_Mặt_Niêm_Phong" để báo cáo sản xuất rõ ràng hơn.

Nhấp vào "+ Thêm vùng kiểm tra" để tạo các vùng phân tích mục tiêu. Kéo chỉnh khung vàng trên mỗi khu vực có nguy cơ lỗi, cụ thể là các bề mặt dập và giao diện niêm phong xung quanh nơi xảy ra tiếp xúc với gioăng.

Nhấp vào "Lưu" sau khi định vị xong tất cả các vùng kiểm tra.

Bước 4: Gắn nhãn dữ liệu

Quá trình gắn nhãn có sự can thiệp của con người là nơi kinh nghiệm sản xuất của bạn huấn luyện mô hình AI. Khi các tấm chắn đi qua hệ thống, người vận hành xem lại các hình ảnh đã chụp và phân loại chúng thành Đạt (vết dập chấp nhận được) hoặc Loại (có lỗi).

Hãy đưa vào các mẫu đại diện trên toàn bộ phạm vi biến thiên chấp nhận được, cũng như các chế độ lỗi đã biết từ lịch sử chất lượng của bạn. Mô hình học tốt nhất từ các ví dụ đa dạng: vết dập nông, vết lệch, bavia mép và các trường hợp biên đều góp phần tạo nên hiệu năng phát hiện mạnh mẽ.

Bước 5: Tạo quy tắc

Cấu hình logic đạt/loại dựa trên các Loại kiểm tra đã xác định. Đặt ngưỡng phản ánh thông số chất lượng của bạn, ví dụ yêu cầu cả ba vùng dập đều đạt để chấp nhận toàn bộ chi tiết.

Kiểm soát việc chấp nhận tự động trên dây chuyền bằng cách liên kết kết quả kiểm tra với cơ cấu loại bỏ hoặc trạm chuyển hướng. Những chi tiết bị đánh dấu lỗi sẽ được tách ra tự động, đảm bảo chỉ các tấm chắn đạt chuẩn tiến tới công đoạn lắp gioăng EMI và lắp ráp cuối cùng.

Kết quả chính và ROI

Việc triển khai kiểm tra thị giác tự động cho tấm chắn EMI dập nổi mang lại tác động kinh doanh có thể đo lường được:

• Giảm tỷ lệ phế phẩm — phát hiện lỗi dập trước khi các công đoạn lắp ráp giá trị gia tăng làm chi phí sửa lỗi tăng lên
• Tăng thông lượng — kiểm tra 100% chi tiết ở tốc độ dây chuyền mà không tạo nút thắt kiểm tra
• Tuân thủ và truy vết — tạo bản ghi kiểm tra có dấu thời gian cho từng tấm chắn, hỗ trợ yêu cầu tài liệu EMC trong ô tô và hàng không
• Thông tin cải tiến quy trình — phân tích xu hướng mẫu lỗi giúp phát hiện mòn dụng cụ hoặc trôi cài đặt máy ép trước khi xảy ra lỗi lọt

Kết luận

Các tấm chắn dập nổi với vết dập là một ứng dụng kiểm tra đầy thách thức, nơi các phương pháp truyền thống liên tục hoạt động kém hơn. Bằng cách triển khai nền tảng thị giác máy của Overview.ai, nhà sản xuất có được độ nhạy phát hiện và năng lực thông lượng cần thiết để đảm bảo tính toàn vẹn niêm phong EMI, bảo vệ cả hiệu năng sản phẩm lẫn uy tín thương hiệu.